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probe card image Probe Card는 Wafer상의 각 Chip을 TEST하기 위해 PCB위에 Probe Tip 구조물을 고정시켜 TEST 하고자 하는 Chip의 Pad에 접촉 시킨 후 TEST SYSTEM의 전기적 신호를 Chip상에 전해주는 핵심적인 검사장치입니다.

Probe card Type

Product MLB
(Multi-Layer Board)		 MWB
(Multi-Wire Board)
MLB image MWB image
F
e
a
t
u
r
e		 대형 크기(Max.580*610mm)
High Multilayer(Max. 68Layers)
전기적 성질(Zo controlled)
Halogen Free의 친환경적		 고밀도 배선
낮은 신호 저항
적은 전파 손실
정밀한 저항값 제어
정밀한 타이밍 제어
빠른 제조 기간(2weeks)
A
p
p
l
i
c
a
t
i
o
n		 서버
반도체 Tester		 슈퍼컴퓨터
반도체 Tester

MWB

MWB(Multi-wire Board)는 배선 시 절연된 Wire를 사용하여 Cross가 가능하며, signal 집적도를 높여줍니다.
MWB image

STF

    STF image
  • STF Feature

    - Multi layer ceramic
    - Fine Pitch
    - Thin film pattern
  • Application

    - Semiconductor tester
    - MLC for SoC, CIS
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